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解析機器

解析機器

東電化工業株式会社は、100%良品を目指し‘モノ作り’を遂行しております。作業者の熟練された目と併せて最新の解析機器を装備、お客様から預かった製品は100%良品を目標に納品させていただきます。

高品質の提供=お客様からの信頼へと繋げていきます。
また、表面観察/断面カット/めっき性能評価など幅広い分析や解析のお手伝いをさせて頂きます。

解析機器

◆社内分析

社内分析

一般的な滴定分析を含め、200検体以上の分析に対応可能です。

◆原子吸光装置 <島津製作所社製 AA-6300>

原子吸光装置 <SHIMADZU AA-6300>

めっき液及び排水中の金属濃度をppmレベルで分析が可能です。

◆蛍光X線式膜厚計 <Oxford社製 CMIシリーズ>

蛍光X線式膜厚計 <Oxford社製(CMI社)CMI-900>

半導体材料、電子部品のめっき、蒸着、スパッタなどの表面処理皮膜の厚みと成分比を短時間で測定することが出来ます。

◆半田付け性評価装置 <レスカ社製 SAT-5100>

半田付け性評価装置 <RHESCA SAT-5100>

半田付け性評価装置によるゼロクロスタイムなどの評価が可能です。

◆ワイヤーボンディング機 <新川社製 UTC470BI>

ワイヤーボンディング機 <新川社製 UTC470BI>

各種条件変更に対応でき、大手メーカーのボンディング条件も再現が可能です。

◆万能ボンドテスター(プル強度) <DAGE社製 BT-4000>

万能ボンドテスター(プル強度) <DAGE社製 BT-4000>

各種半導体部品・電子部品の組立工程や、基板への実装工程におけるあらゆる接合強度試験が可能です。

◆工具顕微鏡 <ニコン社製>

NIKON メシュアスコープ

カット寸法などの測定を1/100mm単位で測定可能です。レンズ交換等により深度の測定も可能です。

◆絶縁抵抗計 <日置電機社製 SM-8200>

絶縁抵抗計 <HIOKI社製 SM-8200>

耐圧試験機による
絶縁抵抗値を測定することが出来ます。

◆引張圧縮試験機 <今田製作所製 SV-55C型>

引張圧縮試験機 <今田製作所製 SV-55C型>

最大荷重20Nまでの引っ張り強度の測定が可能です。

◆電界放出型走査電子顕微鏡 <日本電子社製 JSM-7100F>

電界放出型走査電子顕微鏡 <日本電子社製 JSM-7100F>

試料表面の凸凹・形態の観察や表面EDX分析(局所組成、元素分布等)が可能です。FE-SEMでは、超高分解能観察が可能な為、微小領域に含まれる元素の分析にも対応が出来ます。

◆小型環境試験器 <エスペック社製 SH-222>

小型環境試験器

温度-20℃~+150℃、湿度30%~95%までの幅広い範囲で環境評価試験が可能です。

◆クロスセクションポリッシャー <日本電子社製 SM-09010>

クロスセクションポリッシャー <日本電子社製 SM-09010>

研磨機やクロスセクションポリッシャーによる断面カットと断面観察が出来ます。(サポイン助成金より 研究・開発用として活用しています。)

◆デジタルマイクロスコープ <HiROX社製 KH-7700>

デジタルマイクロスコープ <HiROX社製 KH-7700>

7,000倍・3D拡大で撮影が可能です。(サポイン助成金より 研究・開発用として活用しています。)

◆キャピラリー電気泳動 <大塚電子社製 CAPI-3300>

キャピラリー電気泳動 <大塚電子社製 CAPI-3300>

有機物の分析が可能です。(サポイン助成金より 研究・開発用として活用しています。)

◆半導体検出器付蛍光X線膜厚計 <Oxford社製 X-Strata980A>

非破壊式膜厚系

100W高出力X線管を搭載し、より高度に膜厚を測定する事が出来ます。(サポイン助成金より 研究・開発用として活用しています。)

◆真空ガス置換炉 <ADVANTEC社製 FUA232DA>

真空ガス置換炉

真空炉内限界温度1,100℃MAXまで対応可能。真空及び不活性ガス雰囲気で熱処理が出来ます。(ものづくり中小企業・小規模事業者試作開発等支援補助金より 研究・開発用として活用しています。)

◆フーリエ変換赤外分光光度計 <島津製作所社製 IRAffinity-1S(赤外顕微鏡システムAIM-8800付)>

フーリエ変換赤外分光光度計

既知物質と照合することにより、物質の同定を行うことが出来ます。又、有機化合物の分子構造解析を行うことが出来ます。(ものづくり中小企業・小規模事業者試作開発等支援補助金より 研究・開発用として活用しています。)

◆マルチタイプICP発光分光分析装置 <島津製作所社製 ICPE-9820>

マルチタイプICP発光分光分析装置
マルチタイプICP発光分光分析装置

71元素をμg/L(ppb)レベルで高感度に検出し、元素の定性分析、定量分析を行うことが出来ます。更に成分が未知の試作に対し、スペクトル波長または質量数を調べることにより定性分析が可能となります。
(ものづくり中小企業・小規模事業者試作開発等支援補助金より 研究・開発用として活用しています。)

解析・評価の一例

多層プリント基板(スルホール部)

多層プリント基板(スルホール部)のめっき状態を確認するため、クロスセクションポリッシャーで断面カットを行い、SEM観察を行いました。スルホールCuめっきとNi-Auめっき間にボイドが確認されました。

難めっき材料

難めっき材料は、耐薬品性に優れており、処理表面の変化を実体顕微鏡(~50倍)で確認することは難しいです。その為、SEM観察(10,000倍)を行い、原材料の表面がエッチング処理されていることを確認しました。