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電界放出型走査電子顕微鏡
<日本電子社製 JSM-7100F>

SEM:Scanning Electron Microscope
試料表面の凹凸・形態の観察や表面EDS分析(局所組成、元素分布等)が可能。FE-SEMでは、超高分解能観察が可能な為、微小領域に含まれる元素の分析にも対応が出来る。
日々のめっき表面の観察や、EDSによるめっき成分比率の確認を行っている。

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